Publication: COVID-19 Kaygısının Motivasyon Üzerindeki Etkisi: Z Kuşağı Üzerine Bir Araştırma
No Thumbnail Available
Date
2020-12-01
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Metrikler
Total Views
1
Total Downloads
0
Abstract
COVID-19 pandemisinin etkileri sağlık, ekonomi gibi alanlarda olduğu kadar insanı sosyal bir varlık olarak gören davranışsal alanlarda da söz konusudur. 65 yaş ve üzeri bireyler ile gençlerin bu dönemde yaşadıkları farklı süreçler ortaya çıkmıştır. Bu süreçte özellikle Z kuşağı olarak adlandırılan gençlerin “sosyal mesafe” de dahil olmak üzere birçok konuda bilinçli hareket etmesine ilişkin önlemler ve yaptırımlar söz konusudur. Bu dönemin gençlerin üzerinde nasıl bir etki yarattığı merak edilmektedir. Bu kapsamda araştırmanın amacı COVID-19 salgınının yarattığı kaygının Z kuşağının motivasyonu üzerindeki etkisini ortaya koymaktır. Bu amaçla çalışmanın örneklemini Kastamonu Üniversitesi’nin farklı bölümlerinde öğrenim gören 398 öğrenci oluşturmaktadır. Veriler anket yöntemiyle toplanmıştır. Ayrıca Kastamonu Üniversitesi Sosyal ve Beşeri Bilimler Araştırma ve Yayın Etik Kurulu’nun 30.06.2020 tarih ve 2020/2-8 nolu kararı ile etik kurul onayı alınarak çalışma gerçekleştirilmiştir. Hipotezler test edilirken doğrulayıcı faktör analizi, korelasyon analizi ve regresyon analizleri gerçekleştirilmiştir. Araştırma sonucunda COVID-19 salgını nedeniyle ortaya çıkan sosyalleşme kaygısının bireysel kaygıdan yüksek olduğu görülmüştür. İçsel motivasyonun ise dışsal motivasyondan düşük olduğu tespit edimiştir. Ayrıca Z kuşağının sosyalleşme kaygısının hem içsel hem de dışsal motivasyonu anlamlı ve olumsuz yönde etkilediği ortaya çıkmıştır. Fakat bireysel kaygının motivasyon üzerinde herhangi bir etkisinin olmadığı bulunmuştur. Çalışma COVID-19 pandemisi ile ilgili Z kuşağı üzerinde yapılan ilk çalışmalardan olması nedeniyle yazına katkı sunmaktadır.
Description
Keywords
Citation
Teki̇n, E. (2020). COVID-19 Kaygısının Motivasyon Üzerindeki Etkisi: Z Kuşağı Üzerine Bir Araştırma. Turkish Studies (Elektronik), 15(4), 1129-1145