<link rel="stylesheet" href="styles.cf390c6bfbe7555f.css">

Yayın:
SANAL GERÇEKLİK TEMELLİ ÖĞRENME ORTAMLARINDA BULUNUŞLUK HİSSİNİN ÖLÇÜLMESİ: BULUNUŞLUK ÖLÇEĞİNİN TÜRKÇE’YE UYARLANMASI

Placeholder

Danışman

Dil

Türü

Dergi Başlığı

Dergi ISSN

Cilt Başlığı

Yayıncı

Education Technology Theory and Practice

Araştırma Projeleri

Akademik Birimler

Özet

Sanal gerçeklik, birçok avantajlar sunmakta ve çeşitli alanlardaki kullanımı son yıllarda giderek yaygınlaşmaktadır. Kullanıcılar hazırlanan senaryolar sanal bir ortam içerisinde ile bulunma hissini deneyimleyebilmektedir. Genel olarak senaryoların içindeymiş gibi olma, oradaymış gibi hissetme olarak nitelendirilen bu deneyim bulunuşluk hissi olarak adlandırılmaktadır. Subjektif bir kavram olan bulunuşluk hissinin yapısal özellikleri ile ilgili kesin tanımlamalar yapılamamaktadır. Bu noktada, araştırmacılar tarafından bulunuşluk hissinin kişisel raporlamalara dayalı olarak ölçülmesine yönelik araştırmalar devam etmektedir. Bu araştırmada Witmer, Jerome ve Singer (2005) tarafından geliştirilen Bulunuşluk Ölçeğinin (Presence Questionnaire, PQ) Türkçe’ye uyarlama çalışması yapılmış ve faktör yapısı incelenmiştir. Türkçe’ye uyarlanan ölçek 484 katılımcıya uygulanmıştır. Elde edilen veriler üzerinde açımlayıcı faktör analizi (AFA) ve doğrulayıcı faktör analizi (DFA) yapılmıştır. Analiz sonucunda orijinal ölçekten farklı olarak 5 faktörlü bir yapı elde edilmiştir. Ortaya çıkan yeni faktör yapısı, faktörler arasındaki ilişkiler ve maddelerin faktörlere göre dağılımları tartışılmıştır. Uyarlanan ölçeğin Türkiye’de son yıllarda artan bir araştırma eğilime sahip olan sanal dünyalar ve sanal gerçeklik araştırmaları için geliştirilecek sanal ortamların gerek tasarım süreci gerekse etkililiğinin değerlendirilmesi bakımından yol gösterici olacağı düşünülmektedir.

Tanım

Kaynak

Yayıncı

Education Technology Theory and Practice

Anahtar kelimeler

Alıntı

Koleksiyonlar

Onay

Gözden geçir

Tamamlayıcı Bilgiler

Referans Gösteren

İlişkili Sürdürülebilir Kalkınma Hedefleri

Related Patent

Dergi Sayısı

Google Scholar
Scholar'da Ara ↗
Altmetric
Dimensions
PlumX Metrikleri
BIP! Indicators