<link rel="stylesheet" href="styles.cf390c6bfbe7555f.css">

Yayın:
Öznitelik Belirleme Yöntemleriyle Farklı Türde Hata Ayıklamada Önemli Göz Hareket Metriklerinin Belirlenmesi

Placeholder

Danışman

Dil

Türü

Dergi Başlığı

Dergi ISSN

Cilt Başlığı

Yayıncı

Gazi Egitim Faukeltesi Dergisi

Araştırma Projeleri

Akademik Birimler

Özet

Bir programlama süreci içerisinde karşılaşılan olumsuz durumlara hata; hataların fark edilmesi, aranması, bulunması, çözümlenmesi ve tekrar oluşmaması için önlem alınması işlemlerine hata ayıklama denir. Bir programlama sürecinde farklı türde hatalar (derleme zamanı hataları, çalışma zamanı hataları ve mantık hataları) ile karşılaşılmaktadır. Her hata farklı özelliklere sahip olmakla birlikte bireylerin hata giderirken sergiledikleri davranışlar araştırmalarda ilgi çekicidir. Hata ayıklarken bireylerin bilişsel performanslarına ilişkin çıkarım yapmak için göz izleme yöntemi kullanılır. Araştırmalarda kullanılan göz hareket metrikleri birbirlerinden farklıdır ve neden kullanıldığına yönelik belirsizlik vardır. Bu çalışmanın amacı farklı türde hata ayıklamada önemli göz hareketlerinin belirlenmesidir. Araştırmaya mesleki ve teknik liselerin Bilişim Teknolojileri Bölümlerinde okuyan 51 öğrenci katılmıştır. Öğrencilerin hata ayıklama performanslarını belirlemek için Hata Ayıklama Performansı Testi kullanılmıştır. Göz hareketlerini belirlemek için Gazepoint GP3 göz izleme aracı kullanılmıştır. Araştırmanın analizlerinde ilgi alanları belirlenmiş ve göz hareketleri, makine öğrenmesinde kullanılan öznitelik belirleme yöntemlerinden olan Bilgi Kazancı ve Gini Katsayısı ile incelenmiştir. Araştırma sonucunda öğrencilerin farklı türde hata ayıklarken sergiledikleri önemli göz hareketlerinin hata türlerinin özelliklerini yansıttığı belirlenmiştir. Son olarak, bu sonuca göre önerilerde bulunulmuştur.

Tanım

Kaynak

Yayıncı

Gazi Egitim Faukeltesi Dergisi

Anahtar kelimeler

Alıntı

Koleksiyonlar

Onay

Gözden geçir

Tamamlayıcı Bilgiler

Referans Gösteren

İlişkili Sürdürülebilir Kalkınma Hedefleri

Related Patent

Dergi Sayısı

Google Scholar
Scholar'da Ara ↗
Altmetric
Dimensions
PlumX Metrikleri
BIP! Indicators