X-Işınları Tek Kristal Yöntemi İle Kristal Yapı Analizi

Abstract

X-ışınları kırınım yöntemi kullanılarak bir kristalin yapı analizinin temel amacı, incelenen kristalin içeriğinin ayrıntılı bir görüntüsünü atomik seviyede elde etmektir. Elde edilen bu görüntüye dayanarak, bileşiği oluşturan tüm atomların konumları belirlenir ve sonra, atomlar arası mesafeler, bağ açıları, belirli atomların oluşturdukları düzlemler, bu düzlemler arası açılar, bağlar etrafındaki burulma açıları gibi önemli özellikler hesaplanabilir. Bu çalışmada kullanılacak olan madde, Gazi Üniversitesi Eczacılık Fakültesinden temin edildi. Farmakolojik özellikte olan bir maddedir. Böyle bir maddenin analizi ilginç olacaktır. Kristaller, düzenli tekrar eden içyapıları nedeni ile X-ışınlarıyla incelenmesine çok uygundurlar. Kristaller üç boyutlu uzayda, atomları belli bir düzende olan katı maddelerdir. Kristaldeki atomik boyutlar, kullanılan X-ışınlarının dalga boyları ile uyumlu olduğundan, bir kristalin

üzerine gelen X-ışınları saçılır. Saçılan bu radyasyon da belirli kristalografik yönlerde (Bragg açısında) birbirlerini kuvvetlendirerek maksimumları ya da bazı yönlerde de birbirlerini söndürerek minimumları, yani bir kırınım desenini oluşturur. Elde edilen bu kırınım deseninden faydalanılarak kristal yapı çözülür. X- ışınlarıyla incelenecek olan madde öncelikle tek kristal ve uygun büyüklükte olmalıdır. Bu özelliklere sahip C18H15N5O2S organik bileşiğin analizinde gerekli olan veriler için, Ondokuz Mayıs Üniversitesi Fen Edebiyat Fakültesi X-ışınları Araştırma Laboratuarı kullanılacaktır. Burada X-ışınları difraktometresinden elde edilecek veriler, bilgisayar ortamında paket programlar kullanılarak değerlendirilecek ve bileşiğin kristal yapısı aydınlanmış olacak.

Anahtar Kelimeler: X-Işınları, Kırınım, Organik Bileşik, Kristal Yapı, Kuantum Mekaniksel Hesaplamalar